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株式会社ケツト科学研究所
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渦電流膜厚計
LH-200J
電磁膜厚計 渦電流膜厚計 デュアルタイプ膜厚計 ベータ線膜厚計 各種膜厚計および関連機器

通商産業省選定
グッドデザイン商品
デザインおよび機能・品質・安全性などが優秀であると、評価されました。

コンパクトなボディにプリンタを内蔵した膜厚計です。非磁性金属上の絶縁被膜を傷つけることなく、すばやく、正確に測定し、測定結果をその場でプリントアウトすることができます。統計計算、キャリブレーション・メモリ、リミット設定など、便利な機能も装備しています。
●仕様 LH-200J
測定方式 渦電流式
測定対象 非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲 0~800μmまたは32.00mils
測定精度 50μm未満:±1μm、50μm以上:±2%
分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1.0μm
適合規格 JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376
統計機能 測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号
プローブ 一点接触定圧式(LHP-J)
表示方法 デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)
外部出力 RS-232Cインターフェース(転送速度2400bps)
電源 AC100V(50/60Hz)または
電池1.5V(単3アルカリ)本体部×6、プリンタ部×4
寸法・質量 120(W)×250(D)×55(H)mm、1.0kg
付属品 標準板、アルミ素地、標準板ケース、電池1.5V(単3アルカリ)、 ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
オプション RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」
(McWAVE Lite、McWAVE Standard、McWAVE Professional、MultiPropはCEC社の商標です。)
製品情報