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株式会社ケツト科学研究所
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薄膜厚測定器
ストランドゲージ
電磁膜厚計 渦電流膜厚計 デュアルタイプ膜厚計 ベータ線膜厚計 各種膜厚計および関連機器

販売提携商品当社が世界から選りすぐった優秀な商品を責任もってお届けします。

アルマイト処理被膜、塗装、各種高分子によるコーティング被膜など、金属素地上に施された薄い絶縁被膜の測定に適した膜厚計です。従来、一般的膜厚計では不可能とされていた、厚さ0.1mm以下の素地に施された被膜を測定できますから、特にアルマイト工場、アルミ缶の製造工場等では定評があります。
●仕様 ストランドゲージ
測定方式 導電率式
測定対象 金属上の絶縁被膜
測定範囲 0.5~40μm(ただし、比重が1のとき)
測定精度 お問い合わせください
プローブ 曲面測定用
表示方法 アナログ
電源 AC100V(50/60Hz)
寸法・質量 190(W)×210(D)×100(H)mm、1.7kg
オプション 平面測定用プローブ
製品情報