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株式会社ケツト科学研究所
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渦電流膜厚計
LH-373
電磁膜厚計 渦電流膜厚計 デュアルタイプ膜厚計 ベータ線膜厚計 各種膜厚計および関連機器

新製品

LH-373は非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定する膜厚計です。アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を精度良く測定することができます。付加機能はLE-373と同様でコンピュータへのデータ転送、測定回数、平均値、最大最小値、標準偏差などの簡単な統計処理が可能です。
●仕様 LH-373
測定方式 渦電流式
測定対象 非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲 0~1200μmまたは47.0mils
測定精度 50μm未満:±1μm、
50μm以上1000μm未満:±2%、
1000μm以上:±3%
分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm
適合規格 JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376
データメモリ数 約39,000点
検量線メモリ アプリケーションメモリ:100本の検量線を記憶
プローブ 一点接触定圧式(LHP-J)
表示方法 デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm)
外部出力 パソコン(USBまたはRS-232C)
電源 電池1.5V(単3アルカリ)×4
消費電力 80mW(バックライト非点灯時)
電池寿命 100時間(バックライト非点灯時、連続使用)
使用温度範囲 0~40℃
付加機能 各種機能16種
寸法・質量 75( W)×145( D)×31( H)mm、 0. 34Kg 
付属品 標準板セット、標準板ケース、アルミ素地(NFE-373)、プローブアダプタ、キャリングケース、電池1.5V(単3アルカリ)×4
オプション 標準板(付属品以外の厚さ)、測定スタンドLW-990、パソコンケーブル、RS-232C-USBケーブル、データ管理ソフト:「データロガー LDL-03」
製品情報