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株式会社ケツト科学研究所
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ガラス上膜厚測定器
マイクロダームHH-3 Pm
電磁膜厚計 渦電流膜厚計 デュアルタイプ膜厚計 ベータ線膜厚計 各種膜厚計および関連機器

新製品

販売提携商品当社が世界から選りすぐった優秀な商品を責任もってお届けします。

本器はガラスやセラミックに施されたプライマーなどの樹脂被膜厚を、非破壊で測定することができます。従来、これらの素材上の樹脂被膜厚の測定は、試料の切断面で計測する方法が採られてきました。HH-3プローブはベータ線後方散乱方式を採用した小型プローブで、非破壊での被膜厚測定を実現しています。また、このプローブは汎用性にみさまざまな形状の試料、広範な測定対象物に対応します。本体はバッテリー駆動のポータブルタイプですので、製造ラインや品質管理室など使用する場所を選びません。ガラスメーカー、ガラス加工業、また自動車や家電などの部品製造業での活用が期待されています。
●仕様 マイクロダームHH-3 Pm
測定方式 ベータ線後方散乱方式
測定対象 ガラスおよびセラミック上の樹脂被膜厚
検量線メモリ 20本
測定値メモリ 35,000点
統計計算 平均値/標準偏差/最大値・最小値
電源 NiMH 充電式バッテリー(連続約20時間使用可能)
寸法・質量 本体125(W)×250(D)×62.5(H)㎜、0.65kg
付属品 収納ケース、充電スタンド、充電スタンド用ケーブル、充電池×2、本体プローブ接続ケーブル×2、調整用標準板フィルム
製品情報