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株式会社ケツト科学研究所
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電磁膜厚計
LE-200J
電磁膜厚計 渦電流膜厚計 デュアルタイプ膜厚計 ベータ線膜厚計 各種膜厚計および関連機器

通商産業省選定
グッドデザイン商品
デザインおよび機能・品質・安全性などが優秀であると、評価されました。

ポータブルタイプのプリンタ内蔵型膜厚計です。磁性金属上に施されたメッキ(電解ニッケルメッキは除く)・塗装・ライニングなどの膜厚を、被膜に傷をつけることなくすばやく正確に測定。さらに、測定結果をその場でプリントアウトできます。
●仕様 LE-200J
測定方式 電磁誘導式
測定対象 磁性金属上の非磁性被膜
測定範囲 0~1500μmまたは60.00mils
測定精度 15μm未満:±0.3μm、15μm以上:±2%
分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1.0μm
適合規格 JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
統計機能 測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号
プローブ 一点接触定圧式(LEP-J)
表示方法 デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)
外部出力 RS-232Cインターフェース(転送速度2400bps)
電源 AC100V(50/60Hz)または
電池1.5V(単3アルカリ)本体部×6、プリンタ部×4
寸法・質量 120(W)×250(D)×55(H)mm、1.0kg
付属品 標準板、鉄素地、標準板ケース、電池1.5V(単3アルカリ)、ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
オプション L字型プローブ(LEP-21L)、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」
(McWAVE Lite、McWAVE Standard、McWAVE Professional、MultiPropはCEC社の商標です。)
製品情報