製品概要
- 膜厚計L-500用新開発プローブ
- 電磁式プローブ（磁性金属素地用）
- アプリケーションメモリを50本まで保存
膜厚計 プローブ EP-100
主な仕様
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測定方式 電磁誘導式 測定対象 磁性金属上の非磁性被膜 測定範囲 0 ～ 2,500μm 測定精度 15μm未満±0.3μm
15μm以上1,000μm未満±2%
1,000μm以上±3%対応器種 膜厚計 L-500 定価（税別） ¥110,000
カタログ・取扱説明書
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