膜厚計 電磁膜厚計 LE-373

膜厚計

製品概要

電磁膜厚計 LE-373
  • 磁性体上の非磁性被膜厚を測定
  • 電磁膜厚計の中位モデル
  • 測定範囲 0~2500µm
  • データメモリ39000点、統計計算機能

主な仕様

測定方式電磁誘導式
測定対象磁性体上の非磁性被膜
測定範囲0~2500μmまたは99.0mils
測定精度50μm未満:±1μm、50μm以上1000μm未満:±2%、1000μm以上:±3%
分解能100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm
適合規格JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
データメモリ数約39,000点
検量線メモリアプリケーションメモリ:100本の検量線を記憶
プローブ一点接触定圧式(LEP-J)
表示方法デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm)
外部出力パソコン(USBまたはRS-232C)
電源電池1.5V(単3アルカリ)×4
消費電力80mW(バックライト非点灯時)
電池寿命100時間(バックライト非点灯時、連続使用)
使用温度範囲0~40℃
付加機能各種機能16種
寸法・質量75(W)×145(D)×31(H)㎜、0.34Kg
付属品標準板セット、標準板ケース、鉄素地(FE-373)、プローブアダプタ、キャリングケース、電池1.5V(単3アルカリ)×4
オプション標準板(付属品以外の厚さ)、測定スタンドLW-990、パソコンケーブル、RS-232C-USBケーブル、データ管理ソフト:「データロガー LDL-03」
定価(税別)¥198,000

カタログ・取扱説明書