膜厚計 エルニクス8500 Premium / Basic

膜厚計

製品概要

エルニクス8500 Premium / Basic
  • プローブ型としても使えるセンサ一体型電磁膜厚計
  • 測定範囲:0~5000µm
  • データメモリ13000点(Premium)
  • 統計計算機能

主な仕様

プロートタイプFeプロープ(FeP)またはワイヤレスデュアルプロープ(WDP)
測定方式電磁誘導式、過電流式(WDPのみ)
測定対象磁性金属(鉄・鋼)上の非磁性被膜(FeP、WDP)、非磁性(非鉄)金属上の絶縁被膜(WDP)
測定範囲0~5000μm、(5000μmは5.00mmと表示)
測定精度0~2000μm未満:±1μm+2%、2000μm以上±3.5%、(2000μmは2.00mmと表示)
分解能100μm未満0.1μm、1000μm未満1μm、1000μm以上10μm。Premiumは100μm未満の場合、3段階切り替え可能(0.01μm、0.1μm、1μm)
データメモリ数Premium:13,000点以上(ただし、2,000点/1バッチ)、Basic:100点
バッチ数Premium:200個、Basic:1個
付加機能Premium:各種設定14種、Basic:各種設定10種
電源電池1.5V(単3アルカリ)×2個
寸法・質量67(W)×124(D)×33(H)mm、0.12Kg
付属品鉄素地、アルミ素地(WDP)、標準板3枚(100・1000・3000μm)、キャリングケース、プローブ接続ケーブル(FeP)、ストラップ(WDP)、ソフトケース
定価(税別)¥258,000(Premium Fe)/ ¥401,000(Premium Dual)/ ¥198,000(Basic Fe)/ ¥341,000(Basic Dual)

カタログ・取扱説明書