膜厚計 電磁膜厚計 LE-200J

膜厚計

製品概要

電磁膜厚計 LE-200J
  • プリンタ内蔵の電磁膜厚計最上位モデル
  • 測定範囲 0~1500μm
  • 測定精度15μm未満:±0.3μm、15μm以上:±2%
  • データメモリ1500点、統計計算機能

主な仕様

測定方式電磁誘導式
測定対象磁性金属上の非磁性被膜
測定範囲0~1500μmまたは60.00mils
測定精度15μm未満:±0.3μm、15μm以上:±2%
分解能100μm未満:0.1μm、100μm以上:1.0μm
適合規格JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号
プローブ一点接触定圧式(LEP-J)
表示方法デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)
外部出力RS-232Cインターフェース(転送速度2400bps)
電源AC100V(50/60Hz)または電池1.5V(単3アルカリ)本体部×6、プリンタ部×4
寸法・質量120(W)×250(D)×55(H)mm、1.0kg
付属品標準板、鉄素地、標準板ケース、電池1.5V(単3アルカリ)、ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
オプションL字型プローブ(LEP-21L)、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」
定価(税別)¥438,000

カタログ・取扱説明書